科研条件
纳米粒度Zeta电位分析仪 | ||
![]() |
设备型号 | Zetasizer Nano ZS |
主要用途 | 表征颗粒、高分子物质电位 | |
负责人 | 苏振华 | |
联系方式(电话、邮箱) | 027-82927887,suzh@mail.crsri.cn | |
一、设备简介 纳米粒度电位仪是一种功能强大的光散射仪器,主要具有动态光散射DLS,静态光散射SLS和电泳光散射ELS的功能。动态光散射技术DLS通过检测颗粒的布朗运动速度得到其粒径和粒径分布信息。动态光散射还可以用来检测颗粒间的相互作用力因子KD,提供颗粒之间的相互作用力信息。静态光散射SLS通过检测高分子、蛋白质的散射光强,进而得到其绝对分子量信息和第二维利系数A2信息。
二、主要技术指标 (1)对0.6 nm至6 μm的颗粒和分子进行粒度分析,精确测量水分散和非水分散体系中的Zeta电位。 (2)高灵敏度APD检测器和特殊设计的光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。 (3)主要用于纳米材料的粒度分析、纳米颗粒的分散稳定性分析、Zeta电位以及绝对分子量的测试。
|